[산업안전보건법행정규칙]석면조사 및 안전성 평가 등에 관한 고시[별표1]편광현미경을 이용한 건축자재 등의 석면분석법

          편광현미경을 이용한 건축자재 등의 석면분석법

1. 개요

동 분석법은 건축자재 등 고형시료 중 석면형태를 보이는 물질의 굴절률 등 결정광학 특성을 확인하여 석면 함유 여부와 함유된 석면의 종류 및 함유율을 분석하는 방법으로, 함유율은 백분율(%)로 표현한다.

2. 적용범위

법 제38조의2 및 같은 법 시행규칙 제80조의4에 따른 건축물 등의 석면조사를 위한 고형시료 분석에 적용한다.

3. 제한점

편광현미경은 광학현미경의 일종으로 전자현미경에 비해 낮은 확대배율과 분해능을 가지므로 시료에 함유된 석면의 지름이 매우 작거나 분산염색 색깔을 뚜렷하게 관찰할 수 없는 경우 석면의 검출 및 정성분석이 어려울 수 있다. 만약 동 분석법만으로 석면함유 여부 확인이 어렵거나 석면 함유율에 대한 추가 정보가 필요한 경우에는 엑스선회절분석기(XRD) 또는 에너지분산엑스선분석기가 장착된 투과전자현미경(TEM-EDX)을 이용한 추가분석을 실시할 수 있다. 이때 추가분석 방법은 미국환경청의 공정시험법(EPA/600/R-93/116) 또는 이와 같은 수준이상의 분석법에 따른다. 

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