엑스선 회절분석법 (-回折法 , X-ray diffraction method)

단결정 ( 單結晶 ) 또는 분말시료에 의한 단색X선의 회절각을 변화시켜가며 회절선의 세기를 계수관으로 측정하여 X선의 세기나 각도를 자동적으로 기록하는 장치를 이용하는 방법으로 X선회절을 기록하는데 필름을 이용하는 사진법은 전에도 널리 이용되어 왔지만 ,  X선검출기·전자공학이 진보함에 따라 X선회절계가 중요한 측정장치가 이용되고 있다. X-선의 파장과 일반 결정면의 면간거리가 유사한 점을 이용하여 결정질 고체 내부에 회절현상을 일으켜서 고체의 결정구조를 분석하는 방법이다. 주로 결정구조분석 ,  격자부정합계면의 결정성분석 ,  박막구조분석 ,  화합결합상태를 파악하는데 이용된다.